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下打光长脉宽组件测试仪
浏览次数: 时间:2020-6-16 9:17:47
一、设备功能
适用于单晶硅、多晶硅、Topcon、HIT、HJT、IBC、薄膜电池等光伏组件的电性能测试。
二、设备特点
◆采用二次大电容电源及直管氙灯,光源稳定
◆采用专业设计的滤光片,光谱达到A+级(87.5%-112.5%)
◆长脉宽10-200ms单次闪光可调
◆可测试大组件2600mm×1600mm
◆下打光平台式设计,便于操作
◆光照辐度可调200-1200W/?,可测试不同光照辐度下的电池性能
◆专业的控制及数据采集系统,确保数据的准确性和系统稳定性
◆多项电性参数和I-V及P-V曲线;定点电压处的电流与功率显示
◆红外测温,自动温度校正
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